a

Politechnika Częstochowska

Wydział Inżynierii Produkcji i Technologii Materiałów

Możliwości badawcze:

- Badania na mikroskopie AFM:

  • obserwacje powierzchni z wysoką rozdzielczością, zakresy skanowania do 120x120 mikrometrów,
  • wyznaczanie parametrów chropowatości, badanie własności magnetycznych (występowanie i konfiguracja domen),
  • mikroskopia tunelowa materiałów przewodzących,
  • mikroskopia sił bocznych, mikroskopia własności elektrycznych powierzchni,
  • obrazowanie 3D powierzchni, kontrast amplitudowy, fazowy, tryby pracy: kontaktowy, bezkontaktowy, półkontakt,
  • wyznaczanie parametrów stereologicznych bardzo małych detali (zakres nanometryczny).

- Badania metodą Scratch Test (test zarysowania):

  • określenie adhezji powłok, odporności na zarysowania, kontrola jakości,
  • pomiary mikrotwardości,
  • pomiary chropowatości powierzchni (metoda stykowa),
  • badania odporności na zużycie ścierne w styku trzpień-tarcza (Pin-on-disc), rolka-klocek (T-05),
  • badanie tribologiczne w podwyższonych temperaturach.

 
Ta strona używa ciasteczek zgodnie z ustawieniami Twojej przeglądarki Ok, rozumiem.